تقدير الخصائص الكمية للجسيمات النانوية باستخدام مشتقات متعددة لملامح التشتت
| العنوان | تقدير الخصائص الكمية للجسيمات النانوية باستخدام مشتقات متعددة لملامح التشتت |
|---|---|
| المؤلف | تشارنيغو، آر، فرانكور، إم، كينكل، بي، منغوك، مصطفى بينار، هول، بي، سرينيفاسان، سي. |
| تاريخ النشر: | 2011-05 |
| مكان النشر | - إلسفير |
| الموضوع | التوصيف، المقدر المركب، الموجة المتلاشية، المشكلة المباشرة، المشكلة العكسية، ملف التشتت |
| النوع | دورية |
| اللغة | الإنجليزية |
| رقمي | نعم |
| مخطوط | لا |
| المكتبة: | جامعة اوزيجين |
| معرف أصل المكتبة | 0022-4073 |
| رقم السجل | 6a0458c5-1703-4541-9f2c-546793e11ce6 |
| موقع المكتبة | الهندسة الميكانيكية |
| التاريخ | 2011-05 |
| ملاحظات | نظرًا لقيود حقوق الطبع والنشر، فإن الوصول إلى النص الكامل لهذه المقالة متاح فقط عبر الاشتراك. |
| نص عينة | يعد توصيف الجسيمات النانوية على الأسطح مشكلة صعبة في الآية والتي يكون لحلها العديد من التطبيقات العملية. تقترح هذه المقالة طريقة مناسبة لأنظمة التوصيف في الموقع، لتقدير السمات الكمية للجسيمات النانوية على الأسطح من مقاطع التشتت ومشتقاتها. تتمتع طريقتنا بعدد من المزايا مقارنة بالطرق المنافسة لهذه المشكلة العكسية. إحدى هذه المزايا هي أنه لا يلزم سوى حل جزئي للمشكلة المباشرة المصاحبة. على سبيل المثال، من الممكن تقدير متوسط قطر الجسيمات النانوية بـ 53 نانومتر حتى عندما تتعلق بيانات التشتت الموجودة لدى الباحث بالجسيمات النانوية التي يبلغ متوسط أقطارها مضاعفات 5 نانومتر. توضح دراستان عدديتان تنفيذ وأداء طريقتنا لاستنتاج أقطار الجسيمات النانوية ومستويات التكتل على التوالي. |
| DOI | 10.1016/j.jqsrt.2011.01.019 |
| Cilt | 112 |
