Yazar
Astekin, M., Sözer, Hasan
Basım Tarihi
2012
Basım Yeri
-
IEEE
Konu
Örnek olay, Klon tespiti, Etki alanı analizi, Simülasyon sistemleri, Referans mimarisi, Yazılım ürün grupları
Tür
Belge
Dil
İngilizce
Dijital
Evet
Yazma
Hayır
Kütüphane
Özyeğin Üniversitesi
Demirbaş Numarası
978-1-4673-2809-8
Kayıt Numarası
6c2cd2f2-5600-4865-a3d8-4ce966c608d6
Lokasyon
Bilgisayar Bilimi
Tarih
2012
Notlar
Telif hakkı kısıtlamaları nedeniyle bu makalenin tam metnine erişim yalnızca abonelik yoluyla mümkündür.
Örnek Metin
Bu makale, dört farklı endüstriyel simülasyon yazılım sistemi arasında ortak noktaların türetilmesi için klon tespit tekniğinin kullanılmasına ilişkin bir vaka çalışması sunmaktadır. Klonlamayı hem her sistem içinde hem de dört sistem genelinde inceledik. Klon tespitinin yardımıyla birçok ortak noktanın tespit edilebileceğini gösterdik. Analiz sonuçları, alan analizini, yeniden kullanılabilir bileşenlerin tanımlanmasını ve bir referans mimarisinin tasarımını destekleyebilir.
DOI
10.1109/WICSA-ECSA.212.47
