کنترل انتقال حرارت تابشی میدان نزدیک از طریق جفت سطحی فونون-پلاریتون در لایه های نازک

عنوان کنترل انتقال حرارت تابشی میدان نزدیک از طریق جفت سطحی فونون-پلاریتون در لایه های نازک
نویسنده فرانکوئور، ام.، منگوچ، مصطفی پینار، وایلون، آر.
تاریخ انتشار: 2011-06
محل انتشار - Springer Business + Media
موضوع انتقال حرارت تابشی میدان نزدیک
نوع دوره ای
زبان انگلیسی
دیجیتال بله
نسخه خطی خیر
کتابخانه: دانشگاه اوزیغین
شناسه دارایی کتابخانه 1432-0630
شماره ثبت d3c3f1ae-6f6d-4e50-bc79-cf1552af1368
محل کتابخانه مهندسی مکانیک
تاریخ 2011-06
یادداشت‌ها با توجه به محدودیت های کپی رایت، دسترسی به متن کامل این مقاله تنها از طریق اشتراک امکان پذیر است.
متن نمونه امکان کنترل انتقال حرارت تابشی میدان نزدیک با استفاده از لایه‌های نازک کاربید سیلیکون که از فونون-پلاریتون‌های سطحی در طیف مادون قرمز پشتیبانی می‌کنند، بررسی شده‌است. برای این منظور، چگالی موضعی حالات الکترومغناطیسی در شکاف نانومتری تشکیل شده بین دو فیلم SiC و همچنین شار حرارتی تابشی مبادله شده بین لایه‌های نازک محاسبه و تجزیه و تحلیل می‌شود.
DOI 10.1007/s00339-010-6184-0
Cilt 103
مشاهده در منبع دانشگاه اوزیغین دانشگاه اوزیغین - موتور جستجوی آثار تاریخی، آرشیوها و نشریات
دانشگاه اوزیغین - موتور جستجوی آثار تاریخی، آرشیوها و نشریات دانشگاه اوزیغین

کنترل انتقال حرارت تابشی میدان نزدیک از طریق جفت سطحی فونون-پلاریتون در لایه های نازک

نویسنده فرانکوئور، ام.، منگوچ، مصطفی پینار، وایلون، آر.
تاریخ انتشار 2011-06
محل انتشار - Springer Business + Media
موضوع انتقال حرارت تابشی میدان نزدیک
نوع دوره ای
زبان انگلیسی
دیجیتال بله
نسخه خطی خیر
کتابخانه دانشگاه اوزیغین
شناسه دارایی کتابخانه 1432-0630
شماره ثبت d3c3f1ae-6f6d-4e50-bc79-cf1552af1368
محل کتابخانه مهندسی مکانیک
تاریخ 2011-06
یادداشت‌ها با توجه به محدودیت های کپی رایت، دسترسی به متن کامل این مقاله تنها از طریق اشتراک امکان پذیر است.
متن نمونه امکان کنترل انتقال حرارت تابشی میدان نزدیک با استفاده از لایه‌های نازک کاربید سیلیکون که از فونون-پلاریتون‌های سطحی در طیف مادون قرمز پشتیبانی می‌کنند، بررسی شده‌است. برای این منظور، چگالی موضعی حالات الکترومغناطیسی در شکاف نانومتری تشکیل شده بین دو فیلم SiC و همچنین شار حرارتی تابشی مبادله شده بین لایه‌های نازک محاسبه و تجزیه و تحلیل می‌شود.
DOI 10.1007/s00339-010-6184-0
Cilt 103
دانشگاه اوزیغین - موتور جستجوی آثار تاریخی، آرشیوها و نشریات
دانشگاه اوزیغین شما در حال هدایت مجدد هستید...

لطفاً صبر کنید