Yazar
Charnigo, R., Francoeur, M., Kenkel, P., Mengüç, Mustafa Pınar, Hall, B., Srinivasan, C.
Basım Tarihi
2011-05
Basım Yeri
-
Elsevier
Konu
Karakterizasyon, Bileşik tahmin edici, Azalan dalga, Doğrudan problem, Ters problem, Saçılma profili
Tür
Süreli Yayın
Dil
İngilizce
Dijital
Evet
Yazma
Hayır
Kütüphane
Özyeğin Üniversitesi
Demirbaş Numarası
0022-4073
Kayıt Numarası
6a0458c5-1703-4541-9f2c-546793e11ce6
Lokasyon
Makine Mühendisliği
Tarih
2011-05
Notlar
Telif hakkı kısıtlamaları nedeniyle bu makalenin tam metnine erişim yalnızca abonelik yoluyla mümkündür.
Örnek Metin
Yüzeylerdeki nanopartiküllerin karakterizasyonu, çözümü pek çok pratik uygulamaya sahip, zorlu bir problemdir. Bu makale, saçılma profilleri ve türevlerinden yüzeylerdeki nanopartiküllerin niceliksel özelliklerini tahmin etmek için yerinde karakterizasyon sistemlerine uygun bir yöntem önermektedir. Bizim yöntemimiz, bu ters soruna yönelik rakip yaklaşımlara göre çok sayıda avantaja sahiptir. Bu tür bir avantaj, eşlik eden doğrudan problem için yalnızca kısmi bir çözümün gerekli olmasıdır. Örneğin, nanopartiküllerin ortalama çapının 53 nm olduğunu tahmin etmek, bir araştırmacının mevcut saçılma verileri ortalama çapları 5 nm'nin katları olan nanopartiküllere ait olsa bile mümkündür. İki sayısal çalışma, sırasıyla nanoparçacık çaplarını ve topaklaşma seviyelerini çıkarmak için yöntemimizin uygulanmasını ve performansını göstermektedir.
DOI
10.1016/j.jqsrt.2011.01.019
Cilt
112
