Yazar
Charnigo, R., Francoeur, M., Kenkel, P., Mengüç, Mustafa Pınar, Hall, B., Srinivasan, C.
Basım Tarihi
2012-01
Basım Yeri
-
Elsevier
Konu
Bayesian, Bileşik tahmini, Güven aralığı, Saçılma, Yeterli istatistik, Yüzey plazmon-polaritonu
Tür
Süreli Yayın
Dil
İngilizce
Dijital
Evet
Yazma
Hayır
Kütüphane
Özyeğin Üniversitesi
Demirbaş Numarası
0022-4073
Kayıt Numarası
eb1d49fd-c1e5-4415-8d8c-aee89e7ab7d5
Lokasyon
Makine Mühendisliği
Tarih
2012-01
Notlar
NSF
Örnek Metin
Nanopartikül karakterizasyonunun ters problemini çözmek, bilimi ilerletme ve topluma fayda sağlama potansiyeline sahiptir. Yüzey plazmon-polaritonlarının saçılımına dayalı bir çerçeve içinde önemli ilerlemeler kaydedilmiş olsa da, şimdiye kadar dikkate alınmayan bir husus, bir nanoparçacık özelliğinin tahminindeki belirsizliğin ölçülmesidir. Bu nedenle, mevcut makale, bir araştırmacının, bir nanoparçacık karakteristiğinin tahminini, eşlik eden bir "güvenilir aralık" ile artırabileceği bir teknik sunmaktadır. Bilinen güven aralığına benzer ancak Bayes istatistiksel paradigmasından kaynaklanan güvenilir bir aralık, araştırmacının yalnızca "nanopartikül çapının 42 nm olduğu tahmin edilmektedir" yerine "nanopartikül çapı %95 olasılıkla 36 ila 48 nm arasındadır" gibi bir açıklama yapmasına olanak tanır. Araştırmacı nanopartikül karakteristiği hakkındaki önceki inançlarını belirttiği ve nanopartikül karakteristiğini tahmin etmek için tasarladığı deneyde hangi potansiyel sonuçların olası veya olası olmadığını belirttiği sürece tekniğimiz yüzey plazmon-polariton saçılma çerçevesinin dışında bile uygulanabilir. İki sayısal çalışma, sırasıyla nanopartikül çapları ve topaklanma seviyeleri için olası değer aralıklarının oluşturulmasında tekniğimizin uygulanmasını ve performansını göstermektedir.
DOI
10.1016/j.jqsrt.2011.10.006
Cilt
113
